化学机械研磨对硅片表面Haze值的影响The influence of wafer surface Haze after Chemical Mechanical Polishing

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化学研磨和机械研磨的比重对于硅片表面Haze值有较大影响

通过改变化学机械研磨的一些重要工艺参数(如:压力和相对转速)来获得不同的硅片表面状态

化学机械研磨对于硅片表面的粗糙度具有逐渐改善的作用

通信联系人: 【收录情况】 中国科技论文在线: 林佳佳

 化学机械研磨对硅片表面Haze值的影响[EB/OL]

北京:中国科技论文在线

在对单晶硅片进行化学机械研磨的过程中

硅片表面Haze值是描述硅片表面粗糙度的一个重要参数

化学机械研磨过程中

随着机械研磨比重的变大

同时给出了硅片表面Haze值的定义

关键词: 化学机械研磨

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