基于级联电压开关逻辑的组合逻辑容错设计[EB/OL]
北京:中国科技论文在线
组合逻辑电路的软错误率不断增加
现有的逻辑门加固结构通常会带来较大的面积开销
被加固电路软错误率降低达99%以上
关键词: 级联电压开关逻辑门
本文使用具有鲁棒容错性能的级联电压开关逻辑(CVSL)门单元
梁华国 2
2、 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 合肥 230009
基于级联电压开关逻辑的组合逻辑容错设计[EB/OL]
现有的逻辑门加固结构通常会带来较大的面积开销
本文使用具有鲁棒容错性能的级联电压开关逻辑(CVSL)门单元
2、 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 合肥 230009