一种高性能低功耗全扫描电路测试方法[EB/OL]
北京：中国科技论文在线
本文提出一种高性能低功耗全扫描电路测试方法
研究方向：集成电路设计与测试 通信联系人： 尤志强
首先识别全扫描电路的时延最长关键路径
） 摘要： 扫描测试方法在降低测试复杂性的同时
关键词： 扫描测试
研究方向：集成电路设计与测试
算法设计与分析 【收录情况】 中国科技论文在线： 吴勇
显著降低了测试功耗
然后采用两种简洁的阻塞结构阻断扫描移位中未处于最长关键路径上输入端的触发器与其输出端的功能逻辑
【详情见下载】一种高性能低功耗全扫描电路测试方法A high performance and low power test method for full scan circuits
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