聚焦离子束法制备金属材料的TEM试样Improved methodology to prepare TEM sample of metallic materials by focused ion beam

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 聚焦离子束法制备金属材料的TEM试样[EB/OL]

北京:中国科技论文在线

主要介绍了一种改进的用聚焦离子束制备金属材料的透射电镜试样的方法

聚焦离子束技术已被有效地应用于制备各种材料的透射电镜试样

当采用聚焦离子束方法制备其透射电镜试样时会出现由内应力释放导致的试样弯曲或卷曲现象

主要研究方向:材料辐照损伤的透射电子显微研究

) 摘要: 制备制备高质量的透射电镜试样是获得材料完整结构信息的基础

主要研究方向:材料辐照损伤效应研究

成都 610054

ZU Xiaotao * ( School of Physical Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054

向霞

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