基于饱和导通压降的IGBT老化机理分析Analysis of IGBT Aging Mechanism Based on Saturated Conductivity Voltage

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 基于饱和导通压降的IGBT老化机理分析[EB/OL]

北京:中国科技论文在线

对IGBT老化过程中最为主要的特性参数饱和导通压降Vce进行了监测

给出了IGBT的饱和导通压降Vce与键合线脱落和焊料层老化两种老化模式之间的关系

基于IGBT的温度老化实验

IGBT的失效会导致系统的效率下降

结合IGBT老化机理分析

本文提出了两种IGBT加速老化实验方案

哈尔滨工业大学硕士研究生

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