化学机械研磨中划伤的制程失效模式分析的改进P-FMEA improvement of CMP Micro-scratch

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检测及发生率三个方面对划伤的问题做了改进:通过增加后道钨研磨的时间减少严重性

) 摘要: 划伤是二氧化硅化学机械研磨中的一种主要的缺陷

二氧化硅化学机械研磨中的划伤问题得到了很大的改进

关键词: 化学机械研磨

没有一种有效的方法能够完全消除划伤

) Abstract: Micro-scratch is a major defect for oxide CMP(including STI/ILD/IMD CMP), serious micro-scratch would form W Puddle, which will make metal short and then cause yield loss

So far no robust method can avoid this issue

Based on P-FMEA theory, do improvement at severity, detection and occurrence three aspects: add process time at post WCMP to decrease micro-scratch impact, making a robust monitor control method to robust detect this issue early and study a method to decreasing the occurrence of this issue

By all of the efforts, Micro-scratch issue at CMP process has much improvement

Keywords: CMP;Micro-scratch;P-FMEA 下载PDF阅读器 PDF全文下载: 初稿 ( 238 ) 作者简介: 通信联系人: 【收录情况】 中国科技论文在线: 曹雄伟

 化学机械研磨中划伤的制程失效模式分析的改进[EB/OL]

北京:中国科技论文在线

制定新的检验方法提高检测以及研究一种方法减少发生几率

制程失效模式分析 Cao Xiongwei * ( School of Microelectronic, Shanghai JiaoTong University

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