贴片元件几何尺寸精密测量系统的关键技术研究Research on Key Technology of Precision Measurement System for Geometrical Sizes of Chip Components

3997
    


来源:
Licence:
联系:
分类:
平台:
环境:
大小:
更新:
标签:
联系方式 :
免费下载 ×

下载APP,支持永久资源免费下载

限免产品服务请联系qq:1585269081

下载APP
免费下载 ×

下载APP,支持永久资源免费下载

下载APP 免费下载
下载 ×

下载APP,资源永久免费


如果出现不能下载的情况,请联系站长,联系方式在下方。

免费下载 ×

下载论文助手APP,资源永久免费

免费获取

如果你已经登录仍然出现不能下载的情况,请【点击刷新】本页面或者联系站长


 贴片元件几何尺寸精密测量系统的关键技术研究[EB/OL]

北京:中国科技论文在线

搭建了以机器视觉为核心的贴片元件精密测量系统

测量值在其尺寸偏差内,可以用来测量贴片元件的几何尺寸

WU Jiang 2, ( 1、 College of Mechanical Engineering,Chongqing University, Chongqing 400030

针对现有贴片元件的几何尺寸测量方法的局限性

) 摘要: 几何尺寸是贴片元件的重要参数

使用所构建的测量系统对其做了实验研究

2、 College of Mechanical Engineering,Chongqing University,Choongqing 400030

【详情见下载】

免费下载 ×

下载APP,支持永久资源免费下载

下载APP 免费下载
温馨提示
请用电脑打开本网页,即可以免费获取你想要的了。
扫描加我微信 ×

演示

×
登录 ×


下载 ×
论文助手网
论文助手,最开放的学术期刊平台
				暂无来源信息			 
回复
来来来,吐槽点啥吧

作者联系方式

×

向作者索要->